校准是确保涂层测厚仪精度的核心步骤,核心方法是 “零点校准 + 两点校准”,需匹配基体类型和标准厚度片,让仪器建立准确测量基准。
清洁仪器探头和校准载体,去除油污、灰尘或锈蚀,避免接触不良。
确认被测基体类型(磁性 / 非磁性),选择对应测量模式(F/N/FN)。
准备校准工具:同材质无涂层基体(零点校准用)、2 片不同厚度的标准片(建议覆盖常用测量范围)。
确保环境稳定,远离强磁场、电场,温度控制在 23±5℃。
将探头垂直按压在同材质无涂层的标准基体上,确保探头完全贴合。
长按仪器 “校准 / 归零” 键,待屏幕显示 “0.0μm” 或 “CAL 0 OK”,零点校准完成。
若显示偏差,重新按压探头,确保接触无间隙后再次归零。
第一步:将第一片标准片(如 50μm)平整贴在无涂层基体上,探头垂直按压。
仪器显示测量值后,长按 “校准” 键,输入标准片实际厚度(如 50.0μm),确认保存。
第二步:更换第二片更厚的标准片(如 200μm),重复上述操作,输入对应厚度并保存。
校准完成后,仪器会自动生成测量曲线,提升全量程精度。

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